腾讯五分彩规则:技術圖書館

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這些白皮書包括了許多話題，如超快激光、偏振、超高分辨率顯微鏡、和可調式帶通濾光片等

我們也提供了25篇技術期刊文檔，包括全內反射熒光(TIRF)、陡率等等

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光學濾光片--適用于基于激光的熒光顯微鏡

“ 因為激光具有高亮度、穩定、長壽命及譜線窄等特性，它正逐漸取代了熒光成像應用中的傳統寬帶光源。在成像應用中，激光的上述特性可提高可視化的靈敏度，也增加了光通量；激光更具有光束發散角窄、高度的時空相干性、偏振特性明確等獨有特性，從而催生了眾多新的熒光成像技術。然而，相對于寬帶光源，當激光以熒光光源的形式出現時，為基于激光的成像系統（如共聚焦和全內反射熒光（TIRF）顯微鏡）及其組件提出了新的限制要求。尤其是對光學濾光片有著更特殊的要求 ......” 點擊下載PDF文檔(中文）。

測量光學濾光片的光譜

“ 光學濾光片在實現各應用的過程中發揮著重要的作用，如熒光顯微鏡和拉曼光譜儀。在這些應用中，存在兩種不同類型的光束：照明（或激發）光束和信號（或發射）光束。這些光束不僅在光束上不同，其強度也明顯不同：信號光束可比照明光束若數百萬倍（甚至更高）。因此，關鍵的是濾光片能夠選擇性地透過所需波長的光，同時也能阻斷不必要的光線。這類濾光片的性能由其光譜特性決定，包括信號的透過效率以及照明光和不需要的發射波長的阻斷。特別是，在非常短的波長范圍內濾光片要從深過阻斷度到高透過率是非常關鍵的，也就是陡率和很深的光譜邊緣。但是，由于標準測量技術的局限性，經常無法準確地測定薄膜干涉濾光片的光譜特性，尤其是當有陡深的邊緣時更難準確測定。因此，在未通過反復試驗法對濾光片進行試驗的情況下，很難確保達到足夠的系統級性能。本文，我們將探索通過標準測量技術精確測量頻譜的限制，介紹如何通過更好地理解這些限制以及在必要時進行更復雜的測量，從而達到控制這些限制的目的 ......” 點擊下載PDF文檔(中文）。

叢集作者：
Turan Erdogan, 博士 - Semrock 創始人和羅切斯特大學的前助理教授
Prashant Prabhat, 博士 - Semrock 應用科學家