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這些白皮書包括了許多話題,如超快激光、偏振、超高分辨率顯微鏡、和可調式帶通濾光片等

我們也提供了25篇技術期刊文檔,包括全內反射熒光(TIRF)、陡率等等

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光學濾光片--適用于基于激光的熒光顯微鏡

    “ 因為激光具有高亮度、穩定、長壽命及譜線窄等特性,它正逐漸取代了熒光成像應用中的傳統寬帶 光源。在成像應用中,激光的上述特性可提高可視化的靈敏度,也增加了光通量;激光更具有光束發散 角窄、高度的時空相干性、偏振特性明確等獨有特性,從而催生了眾多新的熒光成像技術。然而,相對 于寬帶光源,當激光以熒光光源的形式出現時,為基于激光的成像系統(如共聚焦和全內反射熒光(TIRF) 顯微鏡)及其組件提出了新的限制要求。尤其是對光學濾光片有著更特殊的要求 ......” 點擊下載PDF文檔(中文)。


測量光學濾光片的光譜

    “ 光學濾光片在實現各應用的過程中發揮著重要的作用,如熒光顯微鏡和拉曼光譜儀。在這些應用中, 存在兩種不同類型的光束:照明(或激發)光束和信號(或發射)光束。這些光束不僅在光束上不同,其 強度也明顯不同:信號光束可比照明光束若數百萬倍(甚至更高)。因此,關鍵的是濾光片能夠選擇性地 透過所需波長的光,同時也能阻斷不必要的光線。這類濾光片的性能由其光譜特性決定,包括信號的透過 效率以及照明光和不需要的發射波長的阻斷。特別是,在非常短的波長范圍內濾光片要從深過阻斷度到高 透過率是非常關鍵的,也就是陡率和很深的光譜邊緣。但是,由于標準測量技術的局限性,經常無法準確 地測定薄膜干涉濾光片的光譜特性,尤其是當有陡深的邊緣時更難準確測定。因此,在未通過反復試驗法 對濾光片進行試驗的情況下,很難確保達到足夠的系統級性能。本文,我們將探索通過標準測量技術精確 測量頻譜的限制,介紹如何通過更好地理解這些限制以及在必要時進行更復雜的測量,從而達到控制這些 限制的目的 ......” 點擊下載PDF文檔(中文)。


叢集作者:
Turan Erdogan, 博士 - Semrock 創始人和羅切斯特大學的前助理教授
Prashant Prabhat, 博士 - Semrock 應用科學家


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